NanoMill® TEM specimen preparation system 微束定点离子减薄系统_普津科技官方网站：Metrohm, Agilent, PE, AnalytikJena,Shimadzu,ICP-MS,ICP-OES,GC-MS,LC-MS,HPLC,GC,IC,AAS,IR,TOC,UV,元素分析仪,电位滴定仪,水分仪,分析天平...

型号：型号：1040

原产地：美国

•独有聚焦微束惰性气体离子束
•极低修复电压：50 eV
•聚焦束斑直径：1μm
•定位精度高，去除非晶层且不产生再沉积现象
•采用氩离子束激发二次电子成像同时实现修复及定位
•离子束可以对准定点位置或在一个选定的区域进行进行精细修复
•配备液氮冷台，去除热损伤