热反射法薄膜导热仪NanoTR/PicoTR_普津科技官方网站：Metrohm, Agilent, PE, AnalytikJena,Shimadzu,ICP-MS,ICP-OES,GC-MS,LC-MS,HPLC,GC,IC,AAS,IR,TOC,UV,元素分析仪,电位滴定仪,水分仪,分析天平...

型号：NanoTR/PicoTRNanoTR/PicoTR

原产地：德国德国

热反射方法基于超高速激光闪射系统，可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。此系统可测量厚度低至10nm的薄膜。同时，系统提供不同的测量模式，以适应于不同的基片情况（透明/不透明）。